Tutkijat käyttävätsiirto elektronimikroskoopilla ja Pyyhkäisyelektronimikroskooppi kuvan yksityiskohtia liian pieniä nähdä tavanomaisilla optiset. Keksittiin 1930-luvulla , elektronimikroskoopit on käyttötapoja monilla aloilla tieteen ja teollisuuden , kuten biologiaa , metallurgia ja lääketieteessä. Kahdenlaisia elektronimikroskooppien tuottaa kuvia eri tekniikoilla ; Kullakin menetelmällä on etunsa ja haittansa. TEM ja SEM
TEM ,ohut siivunäytteen istuuerityisen tyhjiöön. Elektronisäteillä näytteen läpi kulkee ja tulee suurennetaan magneettikenttien toimimalla linssit . Elektronit tuottaahehkun fosforilevyjä , jonka tutkijat katsella suoraan tai tallentaa niin kuvatiedostoja . Pyyhkäisyelektronimikroskoopilla käyttääohutta elektronisuihkua skannatakohteen pinnan . Elektroneja ja muita säteilyn hajaantuakohteen pinta ja poimitaan ilmaisimet . Ilmaisimet muuntaasirontasäteilyn kuvaksi . VuonnaPyyhkäisyelektronimikroskoopilla elektronit eivät kuljetutkimuksen alaisena .
Object Koko
vain hyvin ohut näytteet työtäTEM ; Näyte , joka on enemmän kuin 1000 Ängströmiä tai 100 nanometriä paksu lohkot elektroneja ja pilaa kuvan teknikot näytteiden valmistamiseksi huolellisesti viipalointi ohuthieitä suurempia esineitä . SEM , toisaalta , kuvaa näytteiden pinnalla yhtä suuri kuin mikroskoopin kammion avulla ; jopa useita senttejä .
suurennus
Tärkein etuelektronimikroskoopilla on sen suurennuslasin valtaa . Optisella mikroskoopilla suurennuksen latvat pois noin 1000 kertaa , jonka jälkeen kohtasuhteellisen suuri valon aallonpituuksia menettävät selkeyttä . TEM : n suora kuvantamismenetelmä mahdollistaa suuremman suurennuslasin valtaa kuinSEM , vaikka molemmat mikroskoopit ovat paljon tehokkaampia kuin optiset. TEM pystyy suurennuslasin kuvia jopa 500000 kertaa , kun taasSEM suurentaa jopa 200000 kertaa .
Syväterävyyden
syväterävyydestä mikroskooppikuvaa on tekemistä sen kanssa , kuinka paljon näytteen pysyy keskipisteenä. SEM kuvia, joiden parempi syväterävyys kuinTEM . Pyyhkäisyelektronimikroskooppilla ovat kuuluisia lähes kolmiulotteisen näköisiä . Ominaisuudet eri kohdissaesineen pysyä erossa ja hyvin määritelty . TEM , sen sijaan tuottaaenemmän kaksiulotteisen kuvan vähän syvyyttä .
Resoluutio
mikroskoopin resoluutio on sen kyky osoittaa selvästi pieniä yksityiskohtia . Syväterävyys ja resoluutio ovat kompromisseja ; vaikkaSEM on parempi syväterävyys, sen resoluutio ei ole yhtä hyvä kuinTEM : n . Pinta elektroni sironta , joka tuottaaSEM imagoa rajoittaa sen resoluutio . Erikoistunut korkean resoluution versioitaTEM , nimeltäänHRTEM , voi ratkaista yksittäisten atomien joissakin näytteissä .