(ESD ) onnopea , valvomattoman johtamisen ja siirtoa kertynyt sähköä kahden lähteet erilaiset sähkö valmiuksia. Kulutuselektroniikan , Sähkö overstress ( EOS ) voi kirjaimellisesti sulattaa puolijohteita. ESD testaus pyritään tunnistamaan kahden parametrin : kuinka paljonpuolijohde voi käsitellä , ja millä stressiä tasolla mitattuna sähkön , se epäonnistuu . Kun ilmoitti , elektroniikan tuottajat ja kuluttajat voivat pitää toimia ja reaktioitapuolijohde sähkö rajoja . Charge – Device Model ( CDM )
Charged Device Model ( CDM ) tapahtuma tapahtuu, kun laite nopeasti purkautuu yhteydessä toiseen johtava pinta . Elektroniikkateollisuus löysi tämän , kun automatisoituja tuotantolinjoja aiheutti laitteiden käsittämättömästi epäonnistua1970-luvun lopulla . Vaikka teollisuuden mukautettu ,ongelma tuli uudelleentuotantoon tiheämpi , tehokkaammassa toimivien laitteiden enemmänkin kuin yhden gigahertsin ( GHz ) . Tehokkaampi prosessorit saavat , sitä enemmän virtaa hoitaa puolijohteita. Vuonna2010 teollisuuden päivityksenESD Association ilmoitti, ettäpiiri – tuloskehityksen lisännyt ESD maksu – laitteen tapahtumat vuosina 2005 ja 2009 .Puolijohteita modernin elämän ovat alttiimpia ESD johtuen niiden suhteellisen alhaiset jännitetoleranssi .
kynnystiedot
ensimmäinen avain ratkaisemiseen tätä palapeliä piileeomistajan käsikirjan oman pala elektroniikkaa . ” Osa tiedot” sheet , tai tekniset tiedot, osoittavat kynnys tiedot:enimmäismäärä nykyisenpuolijohde voi sietää . Tämä tuleerohkea varoitus . Varo, että kynnys kapasiteetit vaihtelevat suuresti elektroniikan. Vuodesta 2011yleinen esimerkki olisurge – suojauskykyyn baarin kykyä poistaa muihin laitteisiin kytketty siihen . Luotettavuus analyysi Center julkaisee myösStaattinen sähkö herkkyystietoihin yli 22000 laitteisiin .
Sähkömagneettisen pulssin ( EMP ) Data
Sähkömagneettinen pulssi tiedot paljastavatnimenomaan – testattu erittely piste sähkölaitetta ylikuormitus . Vaikka EMP tietoja voidaan vastaavat kynnys tietoja, ne eivät välttämättä täsmää . Vanha ” VU ” mittarianaloginen kasetti kannella voisi piikkiterä” punainen ” alue tuottamatta mitään havaittavia vääristymiä . Tämä on esimerkki hieman ylimääräistä kapasiteettia , ettätuote voi olla valmis hyväksymään ylitietyn valmistajan raja . Sama ei pädedigitaalisen äänen tallennuslaite : Kaikki äänisignaalin että piikit punaiselle alueelle johtaa vääristymiseen . Kansainvälisen sähkötekniikan toimikunnan ( IEC ) , jossa on 40 jäsenmaata , on perustettu ESD testausstandardeja . TarkistaResurssit lisätietoja .
Semiconductor viat
mukaan Semtech ,johtava ESD epäonnistuminen metallioksidista puolijohteita on oksidi punch -through . Oksidi hajoaa johtuen äärimmäisen ylijännite . Ohuempioksidi , sitä suurempi on herkkyys . Sähköstaattinen purkaus tarpeeksi energiaariittävän kauan voi aiheuttaa risteyksessä burnout -yhteensä lyhytpuolijohde . Metallointikuviota burnout tarkoittaaESD- pulssi voi sulaaSemiconductorin metalli johtuu resistiivinen ( joule ) lämmitys . Ei-fataali ESD voi aiheuttaa muuttujien hajoaminen: vuoto ja hajoaminenosiin , kunnespuolijohde ennenaikaisesti epäonnistuu .